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掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測 電子顯微鏡

掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測 電子顯微鏡

簡要描述:結合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統,以快速、簡便的方式實現顆粒的可視化分析,代表著微觀顆粒分析技術的一大進步??焖?、易用和超清晰成像質量的飛納臺式掃描電鏡,加上顆粒統計分析測量系統的顆粒圖像分析功能,為用戶檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創造了一個強大工具。

產品型號: Particle Metric

所屬分類:掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測

更新時間:2024-06-24

廠商性質:其他

詳情介紹
品牌其他品牌產地進口
產品新舊全新放大倍率2,000,000x
分辨率1.8nm加速電壓1kV-20kV

使用飛納臺式掃描電鏡的顆粒統計分析測量系統,以快速、簡便的方式實現顆粒的可視化分析。顆粒統計分析測量系統支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態和尺寸數據。

 

超越光學顯微鏡分析,*自動化的飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統把可視化分析提高到了一個新臺階,這將在粉末設計、開發和質量控制中產生進一步的探索和創新。

顆粒統計.jpeg

柱狀圖、散點圖和生成的圖像可以選定格式導出,并生成報告。所有被測顆粒的柱狀圖都可以顯示為數量分布或體積分布。

 

散點圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來,以揭示相關性和趨勢。飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統支持用戶獲得他們需要的數據。因此,顆粒系統加快了顆粒分析速度,提高了產品質量。

 

顆粒分析軟件.png 顆粒2.jpg

 

顆粒系統規格參數

 

顆粒分析

 

顆粒尺寸范圍:100 nm – 0.1 mm

顆粒探測速度:高達 1000 個/分鐘

測量屬性:大小、形狀、數量

 

顆粒參數:面積、圓當量直徑、表面積、外切圓直徑、比表面積、周長、縱橫比、圓度、伸長率、灰度等級、長軸、短

軸、凸殼體、重心 (x、y)、像素點數、凹凸度

 

圖像顯示

 

• 可給出線性、對數或雙對數坐標的數量、體積分布圖

• 任意zhi定參數的散點圖

• 單個顆粒的掃描電鏡(SEM)圖像

 

復納科學儀器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific),負責荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場的推廣和銷售,提供專業的和測試服務,飛納電鏡擁有專業的服務團隊,提供優化的解決方案;飛納電鏡在上海、北京、廣州設立了測試中心和售后服務中心,目前飛納在中國已經擁有超過 1000 名用戶。

 

 

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